1. X선의 파장은 결정 내부의 원자면 사이의 거리와 유사합니다. 산란, 각 원자는 산란파를 생성하고, 이 파동은 서로 간섭하여 회절을 일으킵니다. 회절파가 중첩된 결과 광선의 강도가 어떤 방향에서는 강화되고 다른 방향에서는 약해집니다. 회절 결과를 분석하여 결정 구조를 얻을 수 있습니다. 위의 내용은 독일의 물리학자 M. von Laue가 1912년에 제안한 중요한 과학적 예측으로 실험을 통해 즉시 확인되었습니다. 1913년 영국 물리학자 W.H.Bragg와 W.L.Bragg는 Laue의 발견을 바탕으로 NaCl, KCl 및 기타 결정 구조의 결정 구조를 성공적으로 결정했으며 결정 회절의 기초가 되는 유명한 공식인 브래그 방정식: 2dsinθ=nλ를 제안했습니다. .
2. 결정 물질의 경우 측정할 결정이 입사광선과 다른 각도에 있을 때 브래그 회절을 만족하는 결정면이 감지되며 이는 서로 다른 회절 강도로 XRD 패턴에 반영됩니다. . 회절 피크. 비정질 물질의 경우 그 구조는 결정 구조에서 장거리 원자 배열 순서를 갖지 않고 소수의 원자 내에서 단거리 순서만 가지므로 비정질 물질의 XRD 패턴은 일부 확산 산란 찐빵 피크를 나타냅니다.
3. X선 회절분석기는 회절의 원리를 이용하여 물질의 결정구조, 질감, 응력을 정확하게 측정하고 상분석, 정성분석, 정량분석을 정확하게 수행합니다. 야금, 석유, 화학 산업, 과학 연구, 항공 우주, 교육, 재료 생산 및 기타 분야에서 널리 사용됩니다.