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회로 기판 수리 방법

회로 기판 수리 튜토리얼 소개

(1) 커패시터

1. 커패시터는 일반적으로 회로에서 "C"와 숫자로 표시됩니다(예: C25는 숫자가 25인 커패시터를 나타냅니다.

커패시터는 두 개의 금속 필름이 근접해 있고 절연재로 분리되어 구성되는 부품입니다. 커패시터의 주요 특성은 DC와 AC를 차단하는 것입니다. 커패시터의 크기는 저장할 수 있는 전기 에너지의 양을 나타냅니다. AC 신호에 대한 커패시터의 방해 효과를 용량성 리액턴스라고 하며 이는 AC 신호의 주파수 및 커패시턴스와 관련됩니다.

용량성 리액턴스 방식은 기본적으로 저항 식별 방식과 동일하며 직접 표시 방식, 색상 표시 방식, 수치 표시 방식의 세 가지 유형으로 구분됩니다. 정전용량의 기본 단위는 패럿(F)으로 표시되며 기타 단위에는 밀리패럿(mF), 마이크로패럿(uF), 나노패럿(nF), 피코패럿(pF)이 포함됩니다. 그중: 1패럿 = 103밀리패럿 = 106마이크로패럿 = 109나노패럿 = 1012피코패럿

대용량 커패시터의 용량 값은 10uF/16V와 같이 커패시터에 직접 표시됩니다.

용량이 작은 콘덴서의 용량값은 콘덴서에 문자나 숫자로 표시합니다. 6

문자 표기: 1m=1000uF 1P2=1.2PF 1n=1000PF

숫자 방식: 일반적으로 세 자리 숫자는 용량을 표시하는 데 사용되며 처음 두 자리는 유효 숫자, 세 번째 숫자는 배율을 나타냅니다.

예: 102는 10×102PF=1000PF를 의미하고 224는 22×104PF=0.22uF를 의미합니다.

3 용량 오류 표

기호 F G J K L M

허용 오차 ±1% ±2% ±5% ±10% ±15% ±20%

예: 세라믹 커패시터 104J는 용량이 0.1uF이고 오류는 다음과 같습니다. ±5%.

4. 결함 특성

실제 유지 관리에서 커패시터 결함의 주요 증상은 다음과 같습니다.

(1) 핀 부식으로 인한 개방 회로 결함.

(2) 납땜 제거 및 가상 납땜으로 인한 개방 회로 오류.

(3) 액체 누출로 인해 용량 부족이나 개방 회로 오류가 발생할 수 있습니다.

(4) 누출, 심각한 누출 및 고장 실패.

(2) 다이오드

크리스탈 다이오드는 회로에서 "D"와 숫자로 표시되는 경우가 많습니다. 예: D5는 5번 다이오드를 나타냅니다.

1. 다이오드의 역할

다이오드의 주요 특징은 단방향 전도성입니다. 즉, 순방향 전압의 작용 하에서 온 저항은 매우 작습니다. 역전압 작용 시 온저항은 매우 크거나 무한합니다. 다이오드는 위와 같은 특성을 가지고 있기 때문에 정류, 절연, 전압 안정화, 극성 보호, 코딩 제어, FM 변조 및 스퀠치와 같은 회로의 무선 전화기에 자주 사용됩니다.

전화기에 사용되는 수정 다이오드는 정류 다이오드(예: 1N4004), 절연 다이오드(예: 1N4148), 쇼트키 다이오드(예: BAT85), 발광 다이오드, 제너 다이오드, 등. .

2. 식별 방법

저전력 다이오드의 N극(음극)은 대부분 표면에 색상환으로 표시되어 있습니다. 다이오드에는 P극(양극) 또는 N극(음극)을 나타내는 특수 기호도 사용됩니다. 다이오드의 극성을 결정하기 위해 "P" 및 "N"으로 표시된 기호도 있습니다. . 발광 다이오드의 양극과 음극은 핀의 길이로 식별할 수 있습니다. 긴 핀은 양극이고 짧은 핀은 음극입니다.

3. 테스트 시 주의사항

다이오드를 테스트하기 위해 디지털 멀티미터를 사용할 때 빨간색 테스트 리드를 다이오드의 양극에 연결하고 검정색 테스트 리드를 음극에 연결하세요. 이때 측정되는 저항값은 다이오드의 순방향 전도 저항으로 아날로그 멀티미터의 테스트 리드 연결 방식과 정반대이다.

제너 다이오드는 회로에서 "ZD"와 숫자로 표시되는 경우가 많습니다. 예를 들어 ZD5는 5번 제너 다이오드를 의미합니다.

1. 제너 다이오드의 전압 안정화 원리: 제너 다이오드의 특성은 항복 후에도 양단의 전압이 기본적으로 변하지 않는다는 것입니다.

이런 식으로 전압 조정기 튜브를 회로에 연결할 때 전원 전압의 변동 또는 기타 이유로 인해 회로의 각 지점의 전압이 변경되면 부하 양쪽 끝의 전압은 기본적으로 변경되지 않습니다.

2. 결함 특성: 제너 다이오드의 결함은 주로 개방 회로, 단락 및 불안정한 전압 값에서 나타납니다. 이 세 가지 유형의 결함 중 전자는 전원 전압의 증가를 나타내고, 후자의 두 유형의 결함은 전원 전압이 0V로 낮아지거나 출력이 불안정해지는 것을 나타냅니다.

일반적으로 사용되는 제너 다이오드의 모델 및 전압 안정화 값은 다음과 같습니다.

모델 1N4728 1N4729 1N4730 1N4732 1N4733 1N4734 1N4735 1N4744 1N4750 1N4751 1N4761

스테이션 전압 값 3.3V 3.6V 3.9V 4.7V 5.1V 5.6V 6.2V 15V 27V 30V 75V 버랙터 다이오드

버랙터 다이오드는 일반 다이오드 내부의 "PN 접합"의 접합 용량을 기준으로 변화하는 역전압이 인가되면 이 원리를 바꾸기 위해 특수 다이오드가 특별히 설계되었습니다.

버랙터 다이오드는 주로 휴대폰의 고주파 변조 회로나 무선전화기의 유선전화에 사용되어 저주파 신호를 고주파 신호로 변조해 전송하는 역할을 한다.

작동 상태에서 버랙터 다이오드의 변조 전압은 일반적으로 음극에 적용되므로 변조 전압의 변화에 ​​따라 버랙터 다이오드의 내부 접합 용량이 변합니다.

버랙터 다이오드에 오류가 발생하면 주요 증상은 누출 또는 성능 저하입니다.

(1) 누출이 발생하면 고주파 변조 회로가 작동하지 않거나 변조 성능이 저하됩니다. 악화.

(2) 버랙터 성능이 저하되면 고주파 변조 회로의 동작이 불안정해 변조된 고주파 신호가 상대방에게 전송된 후 상대방에서 수신된 후 왜곡되는 현상이 발생한다. 다른 파티.

위의 상황 중 하나가 발생하면 동일한 모델의 버랙터 다이오드를 교체해야 합니다.

(3) 인덕터

인덕터는 회로에서 "L"과 숫자로 표시되는 경우가 많습니다. 예: L6은 6번 인덕터를 나타냅니다. 인덕터 코일은 절연 프레임 주위에 절연 전선을 특정 수만큼 감아서 만들어집니다. DC는 코일을 통과할 수 있으며 DC 저항은 와이어 자체의 저항이며 AC 신호가 코일을 통과할 때 전압 강하는 매우 작으며 자체 유도 기전력이 양쪽 끝에서 생성됩니다. 코일은 자기 유도 기전력의 방향이 외부 전압의 방향과 반대이므로 통신을 방해하므로 인덕터의 특성은 DC를 통과하고 AC에 저항하는 것입니다. 임피던스. 인덕터는 회로의 커패시터와 함께 발진 회로를 형성할 수 있습니다.

인덕터에는 일반적으로 직접 표시 방식과 색상 표시 방식이 있습니다. 색상 표시 방식은 저항기와 유사합니다. 예를 들어 갈색, 검정색, 금색, 금색은 1uH의 인덕터를 나타냅니다(오차 5%). 인덕턴스의 기본 단위는 Henry(H)입니다. 변환 단위는 1H=103mH=106uH입니다.

(4) 트랜지스터

트랜지스터 트랜지스터는 회로에서 "Q"와 숫자로 표시되는 경우가 많습니다. 예: Q17은 17번 트랜지스터를 나타냅니다.

1. 특성

트랜지스터(트랜지스터, 줄여서 트랜지스터)는 내부에 2개의 PN 접합을 포함하고 증폭 기능을 갖춘 특수 장치입니다. NPN 유형과 PNP 유형의 두 가지 유형으로 구분됩니다. 이 두 유형의 트랜지스터는 작동 특성 측면에서 서로 보완할 수 있습니다. OTL 회로의 트랜지스터 쌍은 PNP 유형과 NPN 유형의 쌍입니다.

전화에 일반적으로 사용되는 PNP 트랜지스터에는 A92, 9015 및 기타 모델이 포함됩니다. NPN 트랜지스터에는 A42, 9014, 9018, 9013, 9012 및 기타 모델이 포함됩니다.

2. 트랜지스터는 주로 증폭기 회로의 증폭에 사용됩니다. 공통 회로에는 세 가지 연결 방법이 있습니다.

비교를 용이하게 하기 위해 세 가지 유형의 트랜지스터 연결 회로의 특성을 아래 표에 나열하여 참고하시기 바랍니다.

이름***이미터 회로***콜렉터 회로(이미터 출력 장치) ***베이스 회로

입력 임피던스(수백 옴 ~ 수천 옴) 대형(수십 수천 옴 이상) 소형(수 옴 ~ 수십 옴)

출력 임피던스 중간(수천 옴 ~ 수십 킬로옴) 소형(수 옴 ~ 수십 옴) 대형(수 옴 ~ 수십 옴) 옴) 만 옴 ~ 수백 킬로옴)

전압 증폭 계수(1 미만 및 1에 가까움) 큼

전류 증폭 계수 큼(십) 큼(십) 작음( 1 미만 및 1에 가까움)

고전력 증폭(약 30~40dB) 소(약 10dB) 중(약 15~20dB)

고주파 특성 주파수 차이가 좋다

임피던스 매칭을 위해 다단 증폭기 중간 단계, 저주파 증폭 입력 단계, 출력 단계 또는 고주파수 또는 광대역 회로와 정전류 소스 회로를 사용합니다.

3. 온라인 작업 측정

실제 유지 관리에서는 트랜지스터가 회로 기판에 설치되어 있어 측정을 위해 각 트랜지스터를 제거하는 것이 정말 번거롭고 회로 기판이 손상되기 쉽습니다. 실제 유지보수 과정에서 어떤 사람들은 결함 위치를 파악하기 위해 전기가 연결된 회로에서 3극관의 작동 상태를 측정하는 방법이라고 결론을 내렸습니다. 참고:

범주

오류 위치 테스트를 위한 핵심 사항

e-b 극 개방 회로 Ved>1v Ved=V+

E-b 극 단락 회로 Veb=0v Vcd=0v Vbd 상승

Re 개방 회로 Ved=0v

Rb2 개방 회로 Vbd=Ved =V+

Rb2 단락 Ved는 0.7V 정도

Rb1이 많이 증가하고, 개방 회로 Vec<0.5v Vcd 증가

e-c 개방 회로 Veb=0.7v Vec=0v Vcd 상승

B-c 개방 회로 Veb=0.7v Ved=0v

b-c 단락 Vbc=0v Vcd는 매우 낮습니다.

Rc 개방 회로 Vbc=0v Vcd는 증가하고 Vbd는 변하지 않습니다.

Rb2의 저항은 Ved가 V+ Vcd 정도 많이 증가합니다. 약 0V

Ved 전압이 불안정하고, 트랜지스터와 주변 부품의 납땜이 약합니다.

p>

Rb1 개방 회로 Vbe=0 Vcd=V+ Ved=0

Rb1 단락 Vbe는 약 1v Ved=V-Vbe

Rb2 단락 Vbd=0v Vbe=0v Vcd =V+

Re 개방 회로 Vbd 상승 Vce=0v Vbe=0v

Re 단락 Vbd=0.7v Vbe=0.7v

Rc 개방 회로 Vce=0v Vbe =0.7v Ved는 약 0v입니다

c-e 극 단락 Vce=0v Vbe=0.7v Ved 상승

b-e 극 개방 회로 Vbe>1v Ved=0v Vcd=V+

B-e 극 단락 회로 Vce는 약 V+ Vbe=0v Vcd는 약 0v

c-b 극 개방 회로 Vce=V+ Vbe=0.7v Ved=0v

c-b 극 단락 회로 Vcb=0v Vbe=0.7v Vcd=0v

집적 회로 감지 방법

요즘 전자 제품은 집적 회로 손상으로 인해 손상되어 하나 또는 여러 부품이 제대로 작동하지 않아 장비의 정상적인 사용에 영향을 미치는 경우가 많습니다. 그러면

집적회로의 품질을 어떻게 감지할 수 있을까요? 일반적으로 장치에는 집적회로가 많이 있습니다. 결함이 있는 집적회로가 있는 장치를 구입하면 먼저 결함 현상을 기준으로 판단해야 합니다. 결함 위치를 측정한 후, 측정을 통해 결함이 발생할 수 있는 위치를 점차적으로 좁혀 최종적으로 결함 위치를 찾아냅니다.

결함 위치를 찾으려면 검사를 통과해야 합니다. 일반적으로 수리공은 핀 전압을 측정하여 판단하지만 이는 대략적인 결함 위치만 확인할 수 있으며 일부 핀은 반응하지 않거나 전혀 반응하지 않습니다. 전압 편차의 경우에도 주변 부품의 손상 등의 요인도 포함되므로 통합 블록에서는 내부 결함과 주변 결함을 엄격하게 구분할 필요가 있으므로 한 가지 방법만으로는 집적 회로를 감지하기가 어렵습니다. 그리고 포괄적인 접근 방식에 의존해야 합니다.

이제 구체적인 방법을 소개하기 위해 멀티미터 감지를 예로 들어 보겠습니다. 우리는 통합 블록을 사용할 때 회로에서 접지 핀이라고 하는 인쇄 회로 기판의 "접지" 와이어에 납땜된 핀이 항상 있다는 것을 알고 있습니다. 직접 결합이 집적 회로 내부에서 사용되므로 통합 블록의 다른 핀과 접지 핀 사이에 특정 DC 저항이 있습니다. 이 특정 DC 저항을 핀의 내부 등가 DC 저항 또는 줄여서 R이라고 합니다. 새로운 통합 블록을 얻으면 각 핀의 내부 등가 DC 저항을 멀티미터로 측정하여 품질을 판단할 수 있습니다. 각 핀의 내부 등가 저항 R이 표준 값과 일치하면 통합 블록이 적합하다는 것을 의미합니다. 좋음 또는 나쁨. 그렇지 않으면 표준 값과의 차이가 너무 크면 통합 블록이 내부적으로 손상되었음을 의미합니다.

측정 시 주의해야 할 점 중 하나는 집적 블록 내부에 트랜지스터, 다이오드, 기타 비선형 부품이 다수 존재하기 때문에 양호 여부를 판단할 수 없다는 점이다. 또는 측정 중에 저항 값만 측정하면 테스트 리드를 교체한 다음 한 번 측정하여 순방향 및 역방향 저항 값을 모두 얻어야 합니다. R의 순방향 및 역방향 저항 값이 기준을 충족해야 통합 블록이 손상되지 않았다는 결론을 내릴 수 있습니다. 실제 수리에서는 일반적으로 도로 측정이 사용됩니다. 먼저 핀 전압을 측정하여 전압이 비정상적일 경우 핀을 분리한 후 단자 전압을 측정하여 전압 변화가 외부 부품에 의한 것인지, 통합 블록의 내부 부품에 의한 것인지 판단할 수 있습니다. 외부 회로와 접지 사이의 DC 등가 저항(Rout이라고 함)을 측정하여 판단할 수도 있습니다. 통합 블록의 특정 핀과 접지 핀 사이의 DC 저항(회로 내 저항)은 일반적으로 회로에서 측정됩니다. 실제 저항은 R 내부와 R 외부의 병렬 총 DC 등가 저항입니다. 수리에서는 회로 내 전압과 회로 내 저항 측정 방법을 조합하여 사용하는 경우가 많습니다. 회로 내 전압 및 회로 내 저항이 표준 값을 벗어나는 경우가 있는데, 이는 반드시 통합 블록이 손상되었음을 의미하는 것이 아니라 관련 주변 구성 요소가 손상되어 외부 R에 이상이 발생하여 이상을 일으키는 경우가 있습니다. 회로 내 전압 및 회로 내 저항. 이때 매니폴드의 내부 DC 등가 저항만을 측정하면 매니폴드의 손상 여부를 판단할 수 있습니다.

실제 유지 관리 경험에 따르면 회로 내 집적 회로의 내부 DC 등가 저항을 테스트할 때 회로에서 통합 블록을 납땜할 필요는 없으며 비정상적인 핀만 분리하면 됩니다. 동시에 회로 기판에서 접지 핀을 분리하고 다른 핀은 그대로 유지합니다. 테스트 핀과 접지 사이의 순방향 및 역방향 저항 값을 측정합니다. 좋은지 나쁜지를 판단하는 핀입니다. 예를 들어, TV 통합모듈 TA7609P의 A핀의 회로 전압이나 저항이 비정상이라면 A핀과 5번 핀(접지핀)을 차단한 후 멀티미터를 사용하여 3번 핀과 5번 핀 사이의 저항을 측정하면 됩니다. .값을 측정한 후 테스트 리드를 교환하고 다시 측정하십시오. 통합 블록이 정상인 경우 R의 DC 등가 저항은 빨간색 테스트 리드가 접지될 때 8.2kΩ, 검은색 테스트 리드가 접지될 때 272kΩ으로 측정되어야 합니다. 그렇지 않으면 통합 블록이 손상된 것입니다.

대부분의 핀 측정에서 멀티미터는 R×1k 블록을 사용합니다. 개별 핀의 R 값이 매우 큰 경우 R×10k 블록으로 전환합니다. 블록은 미터의 배터리 전압을 측정합니다. 직렬로 연결된 통합 블록에 많은 트랜지스터가 있는 경우 미터의 전압이 너무 낮아 통합 블록의 트랜지스터가 정상적인 작동 조건에 들어갈 수 없습니다. . 값이 표시되지 않거나 정확하지 않습니다. 즉, 검사 중에는 신중하게 분석하고, 다양한 방법을 유연하게 사용하고, 규칙을 탐색하고, 빠르고 정확하게 결함을 찾아내야 합니다.

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