1. 표시 섹션의 주 제어는 다음과 같습니다.
(1) 전원 스위치.
(2) 전원 표시등.
(3) 밝기는 광점의 밝기를 조절한다.
(4) 초점조정 광점 또는 파형 선명도.
(5) 보조 초점은 "초점" 손잡이에 맞춰 선명도를 조절한다.
(6) 눈금자 밝기 레벨 좌표에서 눈금 표시의 밝기입니다.
(7) 버튼을 눌렀을 때 스크린에서 벗어나는 광점을 추적하여 디스플레이 영역으로 돌아가 광점의 위치를 찾습니다.
(8) 표준 신호는 1kHz 로 출력되어 1V 의 구형파 교정 신호를 내보냅니다. Y 축 입력 감도와 x 축 스캔 속도를 보정하기 위해 y 축 입력 터미널에 추가됩니다.
2.y 축 플러그인
(1) 디스플레이 모드 선택기 스위치는 두 개의 Y 축 전면 증폭기 YA 와 YB 의 제어 부품을 전환하는 데 사용되며 다음과 같은 다섯 가지 디스플레이 모드가 있습니다.
교체: 디스플레이 모드 스위치가 교체로 설정된 경우 전자 스위치는 스캔 신호에 의해 제어되며 각 스캔은 YA 또는 YB 신호를 차례로 켭니다. 측정 신호의 주파수가 높을 때, 스캔 신호의 주파수도 높다. 전류
하위 스위치의 스위치 속도가 빠를수록 깜박임이 발생하지 않습니다. 이런 작업 상태는 두 개의 작동 빈도가 높은 신호를 관찰하는 데 적합하다.
간헐적: 디스플레이 모드 스위치가 간헐적으로 설정된 경우 전자 스위치는 스캔 신호에 의해 제어되지 않고 고정 주파수가 200kHz 인 구형파 신호를 생성하여 전자 스위치가 YA 와 YB 를 빠르게 번갈아 켤 수 있도록 합니다. 스위치 주파수가 측정 신호의 주파수보다 높기 때문에 화면에 표시되는 두 채널의 파형은 간헐적입니다. 측정된 신호 주파수가 높을 때 간헐적인 현상은 매우 뚜렷하여 관찰할 수도 없다. 측정 신호의 주파수가 낮을 때 간헐적인 현상이 가려진다. 따라서 이러한 작동 상태는 작동 빈도가 낮은 두 개의 신호를 관찰하는 데 적합합니다.
"YA" 및 "YB": 디스플레이 모드 스위치가 "YA" 또는 "YB" 로 설정되어 있으면 오실로스코프가 단일 채널에서 작동하는 것입니다. 이 시점에서 오실로스코프는 모노 오실로스코프와 동일하게 작동합니다. 즉, "YA" 또는 "YB" 채널의 신호 파형만 별도로 표시할 수 있습니다.
"YA+YB": 디스플레이 모드 스위치가 "YA+YB" 로 설정되어 있으면 전자 스위치가 작동하지 않고 YA 와 YB 신호가 모두 증폭기와 도어 회로를 통과하고 오실로스코프는 두 신호가 겹치는 파형을 표시합니다.
(2) "DC-⊡-AC" Y 축 입력 선택 스위치는 테스트된 신호와 입력 터미널의 결합 모드를 선택하는 데 사용됩니다. DC 를 직접 커플링으로 설정하면 DC 컴포넌트가 있는 AC 신호를 입력할 수 있습니다. "AC" 위치에 배치하여 AC 커플링을 실현하고 AC 컴포넌트만 입력합니다. Y 축 입력 끝 접지는 ""위치에 배치될 때 DC 전압 0 레벨 테스트를 위한 참조 기준선으로 사용되는 시간 기준선을 표시합니다.
(3) "V/div 미세 조정" 민감도 선택 스위치 및 미세 조정 장치. 감도 선택 오픈 관계형 슬리브 구조, 검은색 손잡이는 Y 축 감도 조조 장치로 100 mV/div 부터 20V/div 까지 1 1 파일로 나뉩니다. 빨간색 손잡이는 시계 방향으로 전체 눈금으로 증가할 때 보정 위치인 미세 조정 장치입니다. 굵은 손잡이에 표시된 값에 따라 측정 신호의 크기를 읽을 수 있습니다. 손잡이가 시계 반대 방향으로 전체 눈금으로 회전할 때 변경 범위는 2.5 배 커야 합니다. 미세 조정 전위계를 지속적으로 조정하면 모든 단계 간의 민감도 커버리지를 얻을 수 있습니다. 정량 측정을 할 때는 손잡이가 시계 방향으로 가득 찬 눈금의 "교정" 위치에 있어야 합니다.
(4) "균형" Y 축 증폭기의 입력 회로가 불균형하면 표시된 광점 또는 파형이 "V/div" 스위치의 "미세 조정" 회전에 따라 Y 축 방향으로 오프셋됩니다. 균형 전위차계를 조정하면 이 간격띄우기를 최소화할 수 있습니다.
(5) Y 축 변위 전위차계는 파형의 수직 위치를 조정합니다.
(6) 슬라이딩 스위치는 극성 변환의' 극성, 라아' 통로에 쓰인다. 당기면 YA 채널 신호가 반대로 표시됩니다. 즉, 디스플레이 모드가 (YA+ YB) 일 때 표시되는 이미지는 YB-YA 입니다.
(7) "내부 트리거, YB 풀" 은 소스 선택 스위치를 트리거합니다. 누름 위치 (정상) 에서 스캔 트리거 신호는 각각 YA 및 YB 채널의 입력 신호에서 파생되며 단일 또는 이중 채널 디스플레이에 적용되지만 이중 웨이브 형상의 시간은 비교할 수 없습니다. 스위치가 뽑히면 스캔된 트리거 신호는 YB 채널의 입력 신호에서만 가져오며, 이중 추적 표시에서 두 웨이브 형상을 비교하는 시간과 위상차에 적합합니다.
(8)Y 축 입력 소켓은 BNC 소켓을 사용하며 측정 신호는 직접 입력되거나 프로브를 통해 입력됩니다.
3.x 축 플러그인
(1) "t/div" 스캔 속도 선택 스위치 및 스피너 미세 조정. X 축 광점의 이동 속도는 0.2μ s 에서 1s * * * 에서 2 1 까지 결정됩니다. 스위치가 전위계를 시계 방향으로 끝까지 "미세 조정" 하고 스위치가 켜지면 "교정" 위치입니다. 이 시점에서 "t/div" 의 표시 값은 스캔 속도의 실제 값입니다.
(2) "확장 × 10" 스캐닝 확장 장치. 누르는 상태에서 정상적으로 사용할 수 있는 케이블 스위치이며, 케이블 위치 스캔 속도는 10 배 빨라집니다. T/div' 에 대한 표시 값도 그에 따라 계산해야 합니다. 확장 당기기 × 10 을 사용하면 웨이브 형상 세부 사항을 관찰하는 데 적합합니다.
(3)X 축 위치 조정 손잡이. X 축 광선의 수평 위치 조정 포텐쇼미터, 슬리브 구조입니다. 외부 링 손잡이는 거친 조정 장치이다. 시계 방향으로 회전하면 기준선이 오른쪽으로 이동하고 시계 반대 방향으로 회전하면 기준선이 왼쪽으로 이동합니다. 슬리브 축에 놓인 작은 손잡이는 확장 신호를 조절하는 미세 조정 장치입니다.
(4) "외부 트리거 및 외부 x 연결" 소켓은 BNC 소켓을 사용합니다. 외부 트리거를 사용할 때 외부 트리거 신호를 연결하는 콘센트로 사용됩니다. 외부 X 축 증폭기는 신호 입력 소켓으로도 사용할 수 있습니다. 입력 임피던스는 약 1mω 입니다. 외부에서 사용할 경우 입력 신호의 최고값은 12V 보다 작아야 합니다.
(5) "트리거 레벨" 손잡이는 레벨 조정 전위계 손잡이를 트리거합니다. 입력 신호 파형의 트리거 지점을 선택할 수 있습니다. 특히, 스캔의 시작 시간을 조정하고 신호 파형을 트리거하는 지점에서 스캔을 트리거합니다. 시계 방향으로 회전하면 트리거점은 신호 파형의 양수 부분으로, 시계 반대 방향으로 회전할 때는 신호 파형의 음수 부분으로 기울어집니다.
(6) "안정성" 은 안정성 조정 손잡이를 트리거합니다. 스캔 회로의 작동 상태를 변경하는 데 사용됩니다. 스캔 회로는 트리거될 보류 상태여야 합니다. 조정 방법은 Y 축 입력 결합 방법 선택 (AC-접지 -DC) 스위치를 접지 기어로 설정하고 V/div 스위치를 감도가 가장 높은 기어로 설정하는 것입니다. 수평 손잡이가 자려 상태에서 벗어나면 작은 스크루 드라이버를 사용하여 안정기를 시계 방향으로 돌리면 스캔 회로에서 자려 스캔이 발생하고 화면에 스캔라인이 나타납니다. 그런 다음 천천히 시계 반대 방향으로 돌려 스캔라인을 그냥 사라지게 합니다. 이제 스캔 회로가 트리거되는 상태에 있습니다. 이 상태에서 오실로스코프로 측정할 때 수평 노브를 조정하면 화면에서 안정된 웨이브 형상을 얻을 수 있으며 화면에서 웨이브 형상의 시작 위치를 자유롭게 조정하고 선택할 수 있습니다. 안정 전위기가 시계 반대 방향으로 회전할 때 화면에 스캔라인이 나타나는 소수의 파동기 그런 다음 천천히 시계 방향으로 회전시켜 화면의 스캔라인이 사라지고 스캔 회로가 트리거되는 상태가 됩니다.
(7) "내부 및 외부" 는 소스 선택 스위치를 트리거합니다. "내부" 위치에 있을 때 스캔 트리거 신호는 Y 축 채널의 측정 신호에서 가져옵니다. "외부" 위치에 배치되면 "외부 트리거 x 외부" 입력 터미널에 의해 들어오는 외부 트리거 신호에서 트리거 신호가 파생됩니다.
(8) "AC", "AC (h)" 및 "DC" 트리거 커플 링 모드 스위치. "DC" 위치는 DC 커플링 상태이며 변경이 느리거나 빈도가 낮은 트리거 신호 (예: 100Hz 이하) 에 적합합니다. "AC" 파일은 AC 결합 상태에 있으며 트리거 성능은 트리거의 DC 컴포넌트를 차단하기 때문에 DC 컴포넌트의 영향을 받지 않습니다. "AC(H)" 파일은 저주파 억제의 AC 결합 상태에 있습니다. 저주파 구성 요소가 포함된 고주파 복합파를 관찰할 때 트리거 신호는 고통과 필터를 통해 결합되어 저주파 소음과 저주파 트리거 신호 (2MHz 이하의 저주파 구성 요소) 를 억제하여 잘못된 트리거로 인한 파형 깜박임을 방지합니다.
(9) "고주파, 정상 및 자동" 트리거 모드 스위치. 다른 테스트 신호 및 테스트 목적에 맞게 다른 트리거 모드를 선택할 수 있습니다. 주파수가 높고 (예: 5MHz 이상) 트리거가 안정화될 만큼 크지 않은 경우 선택할 수 있는 "고주파" 범위입니다. 이 시점에서 스캔은 고주파 트리거 상태에 있으며 테스트된 신호는 오실로스코프 자체에서 생성된 고주파 신호 (200kHz 신호) 와 동기화됩니다. 평평한 손잡이를 자주 조정하지 않고도 화면에 안정된 파형을 표시할 수 있어 조작이 편리하고 고주파 신호의 파형을 관찰하는 데 도움이 됩니다. Y 축 또는 외부 접촉 소스의 입력 신호를 사용하여 스캔을 트리거하는 "일반" 파일은 일반적인 트리거 스캔 방법입니다. "자동" 파일은 스캔이 자동 상태 (고주파 트리거 모드와 유사) 이지만, 평평한 손잡이를 조정하지 않고도 안정된 파형을 관찰할 수 있어 작동이 편리하고 주파수가 낮은 신호를 관찰하는 데 도움이 됩니다.
(10) "+,-"극성 전환을 트리거합니다. "+"위치에서 트리거 신호의 상승 부분을 선택하고 "-"위치에서 트리거 신호의 하강 부분을 선택하여 스캔 회로를 트리거합니다.
(2) 사용 전 검사, 조정 및 교정
오실로스코프가 처음 사용되기 전이나 장시간 재사용될 때는 스캔 회로의 안정성과 수직 증폭 회로의 DC 균형을 조정하고 작동할 수 있는지 확인해야 합니다. 전압과 시간을 정량적으로 측정할 때 오실로스코프는 수직 증폭 회로의 게인과 수평 스캔 속도도 보정해야 합니다. 오실로스코프 교정 신호의 진폭, 주파수 등의 매개변수가 다르기 때문에 오실로스코프가 제대로 작동하는지 확인하고 수직 증폭 회로 게인과 수평 스캔 속도를 보정하는 방법은 약간 다릅니다.
(3) 사용 단계
오실로스코프는 시간에 따라 다양한 전기 신호 진폭의 파형 곡선을 관찰하는 데 사용할 수 있습니다. 이를 바탕으로 오실로스코프를 사용하여 전압, 시간, 주파수, 위상차, 진폭 변조 등의 전기 매개변수를 측정할 수 있습니다. 다음은 오실로스코프를 사용하여 전기 신호 파형을 관찰하는 사용 단계에 대해 설명합니다.
1. y 축 결합 모드 선택
테스트할 신호의 주파수에 따라 Y 축 입력 결합 모드의 "AC-접지 -DC" 스위치를 AC 또는 DC 로 설정합니다.
2. y 축 감도를 선택합니다
측정된 신호의 대략적인 최고점에 따라 (폴오프 프로브를 사용하는 경우 폴오프 배수로 나누어야 합니다. 커플링은 DC 파일을 가져올 때 중첩된 DC 전압 값도 고려해야 하며, Y 축 민감도 선택 V/div 스위치 (또는 Y 축 감쇠 스위치) 는 적절한 위치에 배치해야 합니다. 실제 사용에서 전압 값을 읽을 필요가 없는 경우 Y 축 민감도 조정 (또는 Y 축 게인) 손잡이를 적절히 조정하여 원하는 높이의 웨이브 형상이 화면에 나타나도록 할 수 있습니다.
3. 트리거 (또는 동기화) 신호의 출처 및 극성을 선택합니다.
일반적으로 트리거 (또는 동기화) 신호 극성 스위치는 "+"또는 "-"위치로 설정됩니다.
4. 스캔 속도를 선택합니다
측정된 신호의 주기 (또는 주파수) 근사값에 따라 X 축 스캔 속도 t/div (또는 스캔 범위) 스위치를 적절한 수준으로 배치합니다. 실제 사용에서는 시간 값을 읽을 필요가 없는 경우 스캔 속도 t/div 미세 조정 (또는 스캔 미세 조정) 손잡이를 적절히 조정하여 테스트에 필요한 주기 수의 웨이브 형상이 화면에 표시되도록 할 수 있습니다. 신호의 가장자리 부분을 관찰해야 하는 경우 스캔 속도 t/div 스위치를 가장 빠른 스캔 속도로 설정해야 합니다.
5. 측정 신호를 입력합니다
측정된 신호가 프로브를 통해 감쇄된 후 (또는 동축 케이블로 직접 입력해도 감쇠되지 않지만 입력 임피던스가 줄어들고 입력 커패시턴스가 커짐), Y 축 입력단을 통해 오실로스코프를 입력합니다.
현재 현상
원시 원인
첫째, 빛이나 파형이 없습니다
전원 공급 장치가 연결되지 않았습니다.
밝기 노브를 잘못 조정했습니다.
X 축, y 축 시프트 손잡이 위치 조정.
Y 축 밸런스 전위기의 부적절한 조정으로 DC 증폭 회로가 심각하게 불균형하게 되었다.
둘째, 가로로 열리지 않습니다.
트리거 소스 선택 스위치가 외부 위치에 배치되고 외부 트리거 신호 입력이 없는 경우 들쭉날쭉한 파동이 생성되지 않습니다.
수평 손잡이가 부적절하게 조절되었다.
안정전위계를 조정하지 않으면 스캔 회로가 트리거되는 임계 상태에 놓이게 됩니다.
X 축 선택 오류는 x 외부 위치에 잘못 배치되고 외부 소켓에는 신호 입력이 없습니다.
듀얼 트랙 오실로스코프가 채널 A (채널 B 에 입력 신호가 없음) 만 사용하고 내부 트리거 스위치가 YB 위치에 있는 경우 들쭉날쭉한 파동이 없습니다.
셋째, 수직 방향은 표시되지 않습니다
입력 결합 모드 DC- 접지-AC 스위치가 접지 위치에 잘못 배치되었습니다.
입력부의 높은 전위 끝과 낮은 전위 끝은 테스트된 회로의 높은 전위 끝과 낮은 전위 끝과 연결되어 있다.
입력 신호가 작아서 V/div 가 저감도 파일에 잘못 배치되었습니다.
넷째, 파형이 불안정하다.
안정전위계 시계 방향으로 과도하게 회전하면 스캔 회로가 자체 검사 상태 (경계 상태가 트리거됨) 가 됩니다.
트리거 커플 링 모드 AC, AC(H) 및 DC 스위치가 서로 다른 트리거 신호 주파수에 따라 해당 위치를 제대로 선택하지 못했습니다.
고주파 트리거 상태를 선택하면 트리거 소스 선택 스위치가 외부 기어에 잘못 배치됩니다 (내부 기어에 넣어야 함). ) 을 참조하십시오
일부 오실로스코프가 자동 모드 (연속 스캔) 에서 스캔할 때 파형이 불안정합니다.
수직선이 조밀하거나 직사각형입니다.
T/div 스위치를 잘못 선택하면 f 스캔 < < f 신호가 발생합니다.
여섯째, 수평선이 밀집되거나 기울어진 수평선.
T/div 스위치를 잘못 선택하면 f 스캔 > > f 신호가 발생합니다.
7, 수직 전압 판독 값이 정확하지 않습니다.
수직 방향의 편향 민감도 (v/div) 가 보정되지 않았습니다.
V/div 를 보정할 때 v/div 미세 조정 손잡이가 정렬 위치에 배치되지 않았습니다 (즉, 시계 방향으로 회전하지 않음).
테스트 중 v/div 미세 조정 손잡이가 보정 위치 (즉, 시계 방향 위치 없음) 에 있지 않습니다.
L0: 1 감쇠 프로브를 사용하면 전압에 10 배를 곱하지 않습니다.
테스트된 신호의 주파수가 오실로스코프의 최대 주파수를 초과하고 오실로스코프 판독값이 실제 값보다 작습니다.
측정은 피크 피크이며 사인 유효 값을 변환해야 합니다.
여덟째, 횡독해서는 안 된다.
수평 편향 민감도 (t/div) 교정은 수행되지 않습니다.
T/div 를 보정할 때 t/div 의 미세 조정 손잡이가 정렬 위치에 배치되지 않았습니다 (즉, 시계 방향으로 회전하지 않음).
테스트 중 t/div 미세 조정 손잡이가 정렬 위치 (즉, 시계 방향 위치 없음) 에 있지 않습니다.
스캔 속도 확장 스위치가 당기기 (× 10) 위치에 있을 때 테스트는 t/div 스위치의 표시된 값에 따라 감도를 10 배로 높이지 못했습니다.
9, AC /DC 중첩 신호의 DC 전압 값이 불분명하다.
Y 축 입력 커플러 선택 DC- 지-AC 스위치가 AC 파일에 잘못 배치되었습니다 (DC 파일에 넣어야 함).
시험 전에 DC- 접지-AC 스위치는 접지 장치에 배치되지 않고 DC 수평 참조점 보정에 사용되었습니다.
Y 축 균형 전위계 조정이 부적절하다.
10, 두 신호의 위상차를 측정 할 수 없다 (파형 표시 방법)
듀얼 트랙 오실로스코프는 실수로 내부 트리거 (라YB) 스위치를 누름 (정상) 위치에 놓고 라YB 위치에 놓아야 합니다.
듀얼 트랙 오실로스코프는 디스플레이 모드 전환을 위한 대체 및 간헐적인 파일을 올바르게 선택하지 않습니다.
단선 오실로스코프의 트리거 선택 스위치가 내부 기어에 잘못 배치되었습니다.
단선 오실로스코프의 트리거 선택 스위치는 외부 기어에 배치되지만 두 개의 외부 접촉 머리카락은 동일한 신호를 사용하지 않습니다.
11, 진폭 변조 파형 장애
T/div 스위치가 잘못 선택되었고 스캔 주파수가 AM 파의 반송파 주파수 (오디오 AM 신호의 주파수 선택) 에 의해 잘못 선택되었습니다.
12. 웨이브 형상은 필요한 시작 시간과 위치로 조정할 수 없습니다.
안정성 전위계는 트리거될 임계 트리거 지점으로 조정되지 않았습니다.
트리거 극성 (+,-) 과 트리거 레벨 (+,-) 이 일치하지 않습니다.
트리거 모드 스위치는 자동 파일 (정상 파일) 에 잘못 배치됩니다.
6. 검사를 트리거하거나 동기화합니다
트리거 레벨 (또는 동기화) 손잡이를 천천히 조정하면 화면에 안정된 파형이 나타납니다. 관찰에 따라 평평한 손잡이를 적절히 조절하여 해당 시작 위치에 웨이브 형상을 표시합니다.
듀얼 트랙 오실로스코프를 사용하여 웨이브 형상을 관찰하면 단일 추적이 표시될 때 디스플레이 모드 스위치가 YA 또는 YB 로 설정됩니다. 테스트된 신호는 YA 또는 YB 입력 터미널 입력 오실로스코프를 통과합니다. Y 축의 트리거 소스는 "내부 트리거-당기기 YB" 스위치를 선택하여 누름 (일반) 위치에 배치합니다. 오실로스코프가 이중 추적 디스플레이를 수행하는 경우 디스플레이 모드 스위치는 교체 파일 (관찰빈도가 너무 낮은 신호의 경우) 또는 간헐적인 파일 (관찰빈도가 너무 높지 않은 신호의 경우) 로 설정됩니다. 이제 y 축의 트리거 소스가 "내부 트리거-라yb" 스위치를 선택하여 "라yb" 파일을 설정합니다.
(4) 부적절한 사용으로 인한 이상
오실로스코프를 사용할 때 운영자가 오실로스코프의 원리를 이해하지 못하고 오실로스코프 패널 제어 장치의 기능에 익숙하지 않기 때문에 잘못 조정하면 이상이 발생할 수 있습니다. 표 5- 1 에는 오실로스코프 사용자가 참조할 수 있도록 오실로스코프의 부적절한 사용으로 인한 일반적인 이상 현상과 그 원인이 나와 있습니다.
셋째, 오실로스코프 테스트 응용 프로그램
전압의 측정
오실로스코프에 의해 수행 된 모든 측정은 전압 측정으로 귀결될 수 있습니다. 오실로스코프는 다양한 파형의 전압 진폭을 측정할 수 있으며, DC 전압과 사인 전압뿐만 아니라 펄스 또는 비정현파 전압 진폭을 측정할 수 있습니다. 더 유용한 것은 펄스 전압 파형의 각 부분에 대한 전압 크기를 측정할 수 있다는 것입니다 (예: 위 펀치 또는 상단 강하). 이것은 다른 어떤 전압 측정기와도 비교할 수 없는 것이다.
1. 직접 측정 방법
직접 측정이란 화면에서 측정된 전압 파형의 높이를 직접 측정한 다음 전압 값으로 변환하는 것입니다. 정량적으로 전압을 테스트할 때 일반적으로 Y 축 민감도 스위치의 미세 조정 손잡이를 "교정" 위치로 옮기면 "V/div" 의 표시 값과 측정된 신호가 차지하는 누진 값에서 측정된 전압 값을 직접 계산할 수 있습니다. 따라서 직접 측정법은 곧은 자 방법이라고도 한다.
(1) AC 전압 측정
Y 축 입력 커플러 스위치를 AC 위치에 배치하여 입력 웨이브 형상의 AC 구성요소를 표시합니다. AC 신호 주파수가 낮으면 Y 축 입력 커플링 스위치를 "DC" 위치에 배치해야 합니다.
테스트된 파형을 오실로스코프 화면 중앙으로 이동하고, "V/div" 스위치를 사용하여 테스트된 파형을 화면의 유효 작업 영역 내에서 제어하고, 좌표 눈금의 구분에 따라 전체 파형을 Y 축 방향의 각도 H 로 읽습니다. 그러면 테스트된 전압의 피크 VP-P 는 "V/div" 스위치의 표시 값에 H 를 곱한 값과 같을 수 있습니다. 프로브를 사용하는 경우
예를 들어 오실로스코프의 Y 축 감도 스위치 "V/div" 는 0.2 단계에 있고, 테스트된 파형은 Y 축의 좌표 폭 H 가 5div 인 경우, 이 신호 전압의 최고점은 1V 입니다. 프로브가 측정한 후에도 위 값이 계속 표시되는 경우 신호 전압을 측정하는 피크 값은 10V 입니다.
(2)DC 전압 측정
Y 축 입력 커플러 스위치를 접지 위치로 설정하고 트리거 모드 스위치를 자동 위치로 설정하여 화면에 0 수평선인 수평 스캔라인을 표시합니다.
Y 축 입력 커플링 스위치를 "DC" 위치로 설정하고 측정 전압을 추가합니다. 이제 스캔라인은 Y 축 방향으로 점프 변위 H 를 생성합니다. 측정된 전압은 "V/div" 스위치 표시 값에 H 를 곱한 값입니다.
직접 측정은 간단하지만 오차가 크다. 오차를 일으키는 요인으로는 판독 오차, 시차 및 오실로스코프의 시스템 오차 (감쇠기, 편향 시스템, 오실로스코프 가장자리 효과) 등이 있습니다.
2. 비교 측정 방법
비교 측정은 알려진 표준 전압 파형을 측정된 전압 파형과 비교하여 측정된 전압 값을 얻는 것입니다.
측정된 전압 Vx 입력 오실로스코프의 Y 축 채널을 조정하고 Y 축 민감도 선택 스위치 "V/div" 및 미세 조정 손잡이를 조정하여 쉽게 측정할 수 있는 높이 Hx 가 스크린에 표시되고 기록되도록 합니다. "V/div" 스위치와 미세 조정 손잡이의 위치는 그대로 유지됩니다. 측정된 전압을 제거하고 Y 축에 알려진 조정 가능한 표준 전압 대 표준 전압의 출력 진폭을 조정하여 측정된 전압과 동일한 진폭을 표시합니다. 이 경우 표준 전압의 출력 진폭은 측정된 전압의 진폭과 같습니다. 비교법은 수직 시스템으로 인한 및 오류를 방지하여 측정 정확도를 높입니다.
(2) 시간 측정
오실로스코프의 시간 기반은 시간과 선형 관계를 이루는 스캔라인을 생성할 수 있으므로, 스크린의 수평 스케일은 주기신호의 반복 주기, 펄스 신호의 폭, 시간 간격, 상승 시간 (상승) 및 하강 시간 (하강), 두 신호의 시간차 등과 같은 파형의 시간 매개변수를 측정하는 데 사용할 수 있습니다.
오실로스코프의 스캔 속도 스위치 "t/div" 의 "미세 조정" 장치가 교정 위치로 이동할 때 "t/div" 스위치의 지시 값에 따라 수평 방향 표시 웨이브 형상의 스케일이 나타내는 시간을 직접 읽고 계산하여 측정된 신호의 시간 매개변수를 보다 정확하게 계산할 수 있습니다.