1. 접촉 거칠기 측정기: 접촉 거칠기 측정기는 기계 프로브를 통해 측정된 물체의 표면과 접촉함으로써 측정됩니다. 기계 프로브가 측정된 표면에 닿으면 측정 시스템은 기계 프로브의 동작 궤적과 힘의 변화를 기록합니다. 표면 형태 매개변수는 프로브의 표면에서의 움직임과 힘의 변화를 측정하여 계산할 수 있습니다. 측정 원리의 핵심은 측정된 표면과의 접촉과 움직임이므로 프로브의 안정성과 정확도를 보장해야 합니다.
장점: 장비 비용이 상대적으로 낮습니다.
단점: 프로브 유지 보수 및 교체 비용이 높습니다. 측정 속도가 느리고 정확도가 낮습니다. 테스트된 물체에 대한 손상; 테스트된 재료에 대한 요구가 있어 부드러운 소재와 뾰족한 제품은 측정하기 어렵다.
비접촉 거칠기 측정기: 비접촉 거칠기 측정기는 일반적으로 광학 원리를 사용합니다. 예를 들어, 광학 간섭 원리를 이용하여 물체의 표면 정보를 얻는 백색광 간섭계는 물체의 표면 거칠기를 정밀하게 측정할 수 있는 정밀 측정기입니다. 압력 세라믹 장치에 의해 구동되는 백색광 간섭계는 측정 정확도가 높고 정확도가 나노 수준에 이를 수 있다. 다량의 정밀도가 높은 고속 압력 세라믹 장치에 의해 구동되는 백색광 간섭계는 정확도가 0.03nm 에 달하고 스캔 속도는 400 미크론 /s 에 달하며 신 에너지, 반도체, 정밀 가공, 정밀 광학, 항공 우주, 3C 제품, 재료, LCD 등 여러 산업에 널리 사용되고 있습니다.
장점: 측정 속도가 빠르고 정확도가 높습니다. 측정된 물체를 손상시키지 않습니다. 소재에 대한 요구 없이 부드러운 소재와 날카로운 제품도 측정할 수 있습니다.
단점: 장비 비용이 비교적 높습니다.
요약하면 표면 거칠기의 측정은 실제 측정과 수요에 따라 적절한 측정 방법을 선택해야 합니다.